Microscopio electrónico de barrido de filamento de volframio, Eco. SEM, 15x ~ 250000x

A63.7062

Microscopio electrónico de barrido de filamento de volframio 15x ~ 25000x, estándar. SEM

LaB6 actualizable, detector de raios X, EBSD, CL, WDS, máquina de revestimento e etc.

EBL de modificación múltiple, STM, AFTM, Heatign Stage, Cryo Stage, Tensile Stage, SEM + Laser and Etc.

Calibración automática, detección automática de fallos, baixo custo para manter e reparar

Interface de operación sinxela e amigable, controlada por rato no sistema Windows

Cantidade mínima de pedido:1

Detalle do produto

Descrición do produto

A63.7062 Filamento de volframio Microscopio electrónico de varrido, Eco. SEM
Resolución	4.5nm@30KV (SE); 6 nm @ 30KV (EEB)
Ampliación	Ampliación negativa: 15x ~ 250000x; Ampliación da pantalla: 30x ~ 500000x
Pistola electrónica	Cartucho de filamento de volframio centrado previamente en cátodo precalentado en tungsteno
Tensión acelerada	0 ~ 30KV
Sistema de lentes	Lente electromagnética de tres niveis (lente cónica)
Apertura Obxectiva	Sistema de baleiro exterior axustable con apertura de molibdeno
Etapa do exemplar	Etapa de cinco eixos
Alcance da viaxe	X (automático)	0 ~ 50 mm
Y (automático)	0 ~ 50 mm
Z (manual)	0 ~ 25 mm
R (manual)	360o
T (Manual)	-5o ~ 90o
Diámetro máximo do exemplar	150 mm
Detector	SE: Detector de electróns secundario de alto baleiro (con protección do detector)
Modificación	Actualización de etapa; EBL; STM; AFM; Etapa de calefacción; Etapa de crio; Etapa de tracción; Manipulador micro-nano; Máquina de recubrimento SEM +; Láser SEM +
Accesorios	CCD, LaB6, detector de raios X (EDS), EBSD, CL, WDS, máquina de recubrimento
Sistema de baleiro	Bombas Turbo Moleculares; Bomba de rotación
Corrente de feixe de electróns	10pA ~ 0,1